ATOMIC FORCE MICROSCOPE (AFM)

La microscopie à force atomique (AFM) donne non seulement accès à la topographie de surface à l’échelle manométrique mais sonde également ses propriétés mécaniques (module de Young, adhésion, friction). Si la microscopie optique est l’extension de l’oeil du chercheur, l’AFM est l’extension de sa main. Les modèles JPK NanoWizard II et Bruker Catalyst présent à Restore sont couplés à des microscopes optiques inversés à épi-fluorescence permettant de corréler ces différentes sources d’information sur des scans allants jusqu’à120µm de coté. Ces appareils conçus spécialement pour travailler en miPlateau liquide et à température contrôlée sont adaptés aussi bien à l’étude des cellules et tissus vivants qu’au sondage la matière à l’échelle moléculaire et peut ainsi mettre en évidence les propriétés mécaniques (adhésion, rigidité, friction…) et topographiques (hauteur, largeur, rugosité…) des composés étudiés.